SZKOLENIE: Statystyczne sterowanie procesem SPC - szkolenie podstawowe

Program i ćwiczenia:

1. Wprowadzenie:

• Znaczenie metod statystycznych, w szczególności SPCwe współczesnych systemach zarządzania jakością i innych kulturach organizacyjnych generujących jakość(ISO 9001:2015, IATF 16949:2016, Six Sima).
• Statystyczne narzędzia jakości – krótka charakterystyka, przeznaczenie, normy, przewodniki (IS0/TR 10017).
• Kontrola jakości a statystyczne sterowanie procesem (kontrola produktu – tolerowanie strat, SPC – unikanie strat).

2. Zmienność. Podstawowa statystyczna analiza danych (statystyczny opis zmienności):

• Definicja procesu.
• Zmienność- redukcja zmienności to poprawa jakości.
• Przyczyny przypadkowe i szczególne zmienności, pojęcie procesu stabilnego (pod kontrolą) i rozregulowanego (poza kontrolą).
• Techniki rejestrowania i analizy zmienności – statystyczna analiza danych.
• Statystyczny opis zmienności - wyznaczanie i interpretacja parametrów opisowych (średnia, mediana, rozstęp, ruchomy rozstęp, odchylenie standardowe, skośność, kurtoza itd.), konstrukcja histogramu (dobór liczby przedziałów), rozkład empiryczny a rozkład teoretyczny, rozkład normalny.
• Przykłady, ćwiczenia.

3. Zdolność procesu/maszyny:

• Obliczanie i interpretacja współczynników zdolności procesu według strategii podstawowej (Cp, Cpk) oraz wedługISO/TR 22514-4 (Cp, Cpk, Pp, Ppk).
• Krótka charakterystyka innych strategii oceny zdolności (AIAG, VDA).
• Obliczanie i interpretacja współczynników zdolności maszyny Cm, Cmk (ISO/TR 22514-3).
• Ocena zdolności procesu/maszyny w przypadku rozkładów innych od rozkładu normalnego – metoda percentylowa wraz z wykorzystaniem przybliżonej metody rachunkowej Clementsa (ISO/TR 22414-4).
• Zdolność procesu w przypadku oceny alternatywnej.
• Przykłady, ćwiczenia.

4. Karty przebiegu procesu, karty kontrolne jako narzędzia monitorowania i doskonalenia procesu:

• Karty przebiegu procesu a karty kontrolne.
• Karty kontrolne Shewharta.
• Ogólne zasady funkcjonowania kart kontrolnych Shewharta (trzysigmowość karty, metody konstrukcji karty, błędy wnioskowania, dostosowanie karty do procesu).
• Konstrukcja kart kontrolnych Shewarta dla cech mierzalnych (metoda stabilizacyjna tj. na podstawie wstępnych danych z procesu, metoda projektowa tj. na podstawie warunków jakościowych nakładanych na proces) - karta wartości średniej i rozstępu, karta wartości średniej i odchylenia standardowego, karta mediany i rozstępu, karta pojedynczych obserwacji i ruchomego rozstępu).
• Obliczanie współczynników zdolności procesu Cp, Cpk na podstawie kart kontrolnych dla cech mierzalnych.
• Czułość kart kontrolnych – poziom możliwości detekcji zmian w procesie.
• Zasady optymalnego doboru karty i jej wykorzystania: dobór liczności próbki, częstość próbkowania, metody próbkowania, kryteria identyfikacji rozregulowania procesu (zasady czytania kart kontrolnych) - sygnały, trendy, serie, „obklejanie” linii kontrolnych, „obklejanie” linii centralnej, periodyczność, rola i znaczenie linii ostrzegawczych, testy strefowe itp. – według PN-ISO 8258+AC1, PN-ISO 7870, itd.).
• Karty kontrolne w przypadku oceny atrybutowej: frakcji jednostek niezgodnych p, liczby jednostek niezgodnych np, liczby niezgodności c, liczby niezgodności na jednostkę u.
• Przykłady, ćwiczenia.

5. Wzajemne relacje SPC vs MSA, aplikacje komputerowe wspomagające SPC:

• Analiza systemów pomiarowych (MSA) – kryteria zdatności systemu pomiarowego do nadzorowania procesu/produktu (bez dobrego pomiaru nie ma dobrego SPC!).
• Komputerowe wsparcie metod SPC – przegląd najczęściej wykorzystywanych środowisk.

6. Zasady wdrażania metod SPC, SPC w internecie.

Ćwiczenia:

• Statystyczna analiza zbioru danych, wyznaczanie podstawowych parametrów opisowych, interpretacja wyników przeprowadzonych analiz (histogram, reguła trzech odchyleń standardowych).
• Weryfikacja normalności – graficzny test normalności, przeprowadzenie/interpretacja, inne prostsze sposoby identyfikacji rozkładu normalnego: kształt histogramu, parametry kształtu tj. skośność i kurtoza.
• Wyznaczanie empirycznej (na podstawie danych) i spodziewanej (na podstawie rozkładu teoretycznego) frakcji realizacji poza granicami/granicą specyfikacji.
• Obliczanie i interpretacja współczynników zdolności procesu Cp, Cpk – strategia podstawowa.
• Obliczanie i interpretacja współczynników zdolności procesu Cp, Cpk, Pp, Ppk – strategia według ISO/TR 22514-4.
• Obliczanie i interpretacja współczynników zdolności maszyny Cm, Cmk.
• Obliczanie i interpretacja współczynników zdolności w przypadku rozkładów innych od normalnego – metoda percentylowa.
• Konstrukcja kart kontrolnych wartości średniej i rozstępu oraz pojedynczych wartości i ruchomego rozstępu – metoda stabilizacyjna, metoda projektowa.
• Wyznaczanie współczynników zdolności Cp, Cpk na podstawie kart kontrolnych skonstruowanych metodą stabilizacyjną.
• Interpretacja zachowania się procesu ze względu na zmienność- „czytanie” kart kontrolnych (reguły wg ISO 7870 i inne).
• Konstrukcja i interpretacja kart kontrolnych według oceny alternatywnej: karty p, np., c, u.

Czas trwania usługi

• • Łączny czas trwania: 12 godzin zegarowych
  • Zajęcia teoretyczne: 4 godziny zegarowe
  • Zajęcia praktyczne: 8 godzin zegarowych
  • Przerwy są wliczane w czas trwania usługi

Organizacja walidacji:

• • Walidacja przeprowadzana jest na zakończenie szkolenia
  • Obejmuje część teoretyczną
  • Każdy uczestnik przystępuje indywidualnie do walidacji
  • Przeprowadzany jest test teoretyczny (pytania zamknięte i/lub opisowe) – jako weryfikacja wiedzy

Materiały i certyfikaty w formie drukowanej.